BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平，是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg，有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
MP电子天平 (方盘)
四级防震，称量速度可调 全量程范围去皮 自动零位跟踪可调 自动校准 自动故障诊断超强过载保护 计件、百分比称重功能 克、盎司、克拉等单位转换
GX-K系列精密工业天平
内置自动校准砝码，快速反应SHS称量传感器，结构紧密，高清晰荧光显示，IP-65防水防尘标准，标准计算机接口及Win-CT软件，内置日历功能.符合GLP及GMP标准，满足各工矿企业恶劣条件下高精度称重要求.
310g天平，0.1mg电子天平
0.01mg/0.1mg双量程通用型分析天平,内置自动校准砝码，单键全自动校准，玻璃门易开启手柄，自动环境修正,标准计算机接口，符合GLP及GMP标准
